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大電流注入測(cè)試法 (BCI)-技術(shù)概述：
大電流注入測(cè)試法 (BCI)

大電流注入測(cè)試法 (BCI)

應(yīng)用依據(jù):

依據(jù)ISO11452-2、GB/T 17619、ECE-R 10.05、2004-104-EC等標(biāo)準(zhǔn)要求，對(duì)汽車電子零部件系統(tǒng)等車載電子設(shè)備（包括電動(dòng)汽車DC-DC模塊、車載充電機(jī)等）進(jìn)行BCI大電流注入抗擾度測(cè)試。利用電流注入探頭通過將電流直接感應(yīng)到連接線束進(jìn)行抗擾性試驗(yàn)的一種方法。該注入探頭由一個(gè)耦合鉗組成，被測(cè)系統(tǒng)的電纜從耦合鉗中穿過，然后通過改變感應(yīng)信號(hào)的頻率進(jìn)行抗擾性試驗(yàn)。

 BCI 測(cè)試法，被認(rèn)為是汽車電子模塊敏感度測(cè)試的重要的測(cè)試項(xiàng)目，也是汽車零部件企業(yè)首先建設(shè)的項(xiàng)目之一。

、國(guó)內(nèi)、汽車廠商標(biāo)準(zhǔn)及測(cè)試項(xiàng)目：

BCI測(cè)試典型配置圖：

測(cè)試環(huán)境：屏蔽室或電波暗室